粒子成像测速仪可以测试流体某一界面上的瞬时速度，可以获得两个速度分量，结合立体近似方法可以获得整个区域的三维速度分量。PIV是一种非接触光学测量方法，可以研究和诊断流动、湍流、微流体、喷射雾化和燃烧过程。单一的CCD or CMOS 摄像机可以测量平面内两个方向的速度；采用两个摄像机立体PIV可以测试平面内的三个方向的速度；MicroPIV 可以用来研究微通道里面的流动。
测试特性：非接触光学测试；测试的速度范围从0到超音速；可以同时获得两个/三个方向上的速度分量；测试区域面积：1mm2-1m2；流场快速拍照；瞬时速度矢量图。
